2015年中國科學院福建物質結構研究所X-射線光電子能譜技術培訓與交流
來源:中國科學院福建物質結構研究所網(wǎng) 閱讀:1546 次 日期:2015-01-26 13:42:21
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報告一:XPS測試樣品制備及實驗數(shù)據(jù)處理方法

報告人:吳正龍 教授(北京師范大學)

報告二:XPS表面分析技術及應用

報告人:葛親青 應用工程師(賽默飛世爾)

培訓主要內容:

1、XPS的樣品制備

2、XPS的基本原理及應用

3、XPS的數(shù)據(jù)處理及分析

時間:2015年1月27日(周二) 下午14:30-17:30

地點:化學樓四樓報告廳(楊橋路)

報告人簡介:

吳正龍教授,北京師范大學分析測試中心,從事光譜分析以及教學工作二十多年,現(xiàn)擔任國標委表面分析標準分技術委員會委員,制定和參與多項電子能譜分析方法國標。

葛親青博士,畢業(yè)于復旦大學,現(xiàn)為賽默飛世爾技術應用工程師。

技術支撐中心負責人:郭斌斌

聯(lián)系電話:63173644

更多信息請查看福建省教育培訓機構
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